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PN-12型導(dǎo)電類型鑒別儀采用整流法（也稱三探針法）和溫差法（也稱冷熱探筆法來判斷單晶（或多晶）硅的導(dǎo)電類型（N型或P型），用N型和P型顯示屏直接顯示單晶（或多晶）導(dǎo)電類型。 可判斷硅材料的電阻率范圍 溫差法：10-4Ω·Cm～105Ω·Cm； 整流法：10-2Ω·Cm～104Ω·Cm；

PN-30型導(dǎo)電類型鑒別儀采用整流法（也稱三探針法）和溫差法（也稱冷熱探筆法來判斷單晶（或多晶）硅的導(dǎo)電類型（N型或P型），用N型和P型顯示屏直接顯示單晶（或多晶）導(dǎo)電類型。 該儀器特別采用工控指示開關(guān)，顯示清晰、經(jīng)久耐用；可隨機(jī)調(diào)零；自動(dòng)加熱、保溫。具有體積小、重量輕、性能穩(wěn)定、測試簡便、準(zhǔn)確可靠等優(yōu)點(diǎn)。

RTS-1345型全自動(dòng)四探針測試系統(tǒng) 可對樣品進(jìn)行單點(diǎn)、五點(diǎn)、九點(diǎn)、多點(diǎn)、直徑掃描、面掃描等模式的全自動(dòng)測試； 屏蔽測試，*消除光線對樣品測試的影響，保證測量的準(zhǔn)確性； 吸附測試，*消除全自動(dòng)測試過程中樣品移動(dòng)對測試的影響；

ST-21L型方塊電阻測試儀 采用大規(guī)模集成電路作為儀器的主要部分，測量準(zhǔn)確穩(wěn)定，低功耗； 以大屏幕LCD顯示讀數(shù)，直觀清晰； 采用單個(gè)電池供電，帶電池欠壓指示； 體積≤175mm X90mm X42mm，重量≤300g； 特制之手握式探筆，球形探針、鍍金探針有效接觸被測材料及保護(hù)薄膜 探頭帶抗靜電模塊

ST-21H型方塊電阻測試儀是一種依照類似的國家標(biāo)準(zhǔn)和美國A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)，專門測量半導(dǎo)體薄層電阻（表面電阻）的新型儀器，可用于測量一般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜（ITO透明氧化膜），金屬薄膜……等同類物質(zhì)的薄層電阻。

ST-21型方塊電阻測試儀以大規(guī)模集成電路為主要核心；用基準(zhǔn)電源和運(yùn)算放大器組成高精度穩(wěn)流源；帶回路有效正常指示電路；并配以大型LCD顯示讀數(shù)，使儀器具有體積小、重量輕、外形美、易操作、測量速度快、精度高的特點(diǎn)。

RTS-3型手持式四探針測試儀 測量范圍寬、精度高、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、易操作的手持式設(shè)計(jì)； 體積僅為：185mm（長）*90mm（寬）*30mm（高）； 重量：350g； 使用鋰電池供電，一次充電可連續(xù)使用100小時(shí)；

RTS-2/RTS-2A型便攜式四探針測試儀是運(yùn)用四探針測量原理的多用途綜合測量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的，于測量硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。

RTS-11型金屬四探針測試儀 于測試低阻金屬材料電阻率及方塊電阻 測量范圍：電阻率：10-7～10-2Ω.cm； 方塊電阻：10-6～10-1Ω/□； 是運(yùn)用四探針測量原理的多用途綜合測量設(shè)備，該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的，于測試金屬材料電阻率及方塊電阻（薄層電阻）的儀器。

RTS-5型雙電測四探針測試儀測試程序控制四探針測試儀進(jìn)行測量并采集測試數(shù)據(jù)，把采集到的數(shù)據(jù)在計(jì)算機(jī)中加以分析，然后把測試數(shù)據(jù)以表格，圖形直觀地記錄、顯示出來。用戶可對采集到的數(shù)據(jù)在電腦中保存或者打印以備日后參考和查看，還可以把采集到的數(shù)據(jù)輸出到Excel中，讓用戶對數(shù)據(jù)進(jìn)行各種數(shù)據(jù)分析