光強分布測定儀
產品時間:2024-11-07
簡要描述:
WGZ-IIA光強分布測定儀單縫、單絲、雙縫、多縫等衍射、干涉圖形的一維光強分布測定;小孔、小屏、矩孔、雙孔、光柵和正交光柵等的衍射、干涉現象演示實驗;偏振光實驗光強變化的測定;驗證馬呂斯定律.1.導軌長度:1000mm .2.半導體激光器:配置精密二維調整架,波長635nm,功率3mv.
WGZ-IIA光強分布測定儀
單縫、單絲、雙縫、多縫等衍射、干涉圖形的一維光強分布測定;小孔、小屏、矩孔、雙孔、光柵和正交光柵等的衍射、干涉現象演示實驗;偏振光實驗光強變化的測定;驗證馬呂斯定律.
WGZ-IIA光強分布測定儀參數
1.導軌長度:1000mm .2.半導體激光器:配置精密二維調整架,波長635nm,功率3mv.3.分劃板:小孔狹縫板和光柵.4、可調狹縫寬度:0—1 mm(連續可調).5、擴束鏡倍率: 13X .6、一維光強分布測量距離 :>80 mm.小讀數:0.01 mm.7、偏振光實驗測量范圍 :360°,刻線小讀數:2°.8、數字式檢流計:光電流測量范圍:0~2×10-4A,小讀數:1×10-10A.9、供電電源:交流220V±11V,頻率50HZ(交流穩壓)
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